평판 디스플레이(FPD) 제조 과정에서 패널의 기능성을 확인하는 테스트와 제조 공정을 평가하는 테스트가 진행됩니다.
어레이 프로세스 중 테스트
어레이 공정에서 패널 기능을 테스트하기 위해 어레이 테스터, 어레이 프로브, 프로브 유닛을 이용하여 어레이 테스트를 진행합니다.이 테스트는 유리 기판 패널용으로 형성된 TFT 어레이 회로의 기능을 테스트하고 단선이나 단락을 감지하기 위해 설계되었습니다.
동시에 어레이 프로세스에서 프로세스를 테스트하여 프로세스의 성공 여부를 확인하고 이전 프로세스를 피드백하기 위해 TEG 테스트에 DC 매개 변수 테스터, TEG 프로브 및 프로브 장치가 사용됩니다.(“TEG”는 TFT, 용량성 요소, 와이어 요소 및 기타 어레이 회로 요소를 포함하는 테스트 요소 그룹을 나타냅니다.)
단위/모듈 프로세스 테스트
셀 공정과 모듈 공정에서 패널의 기능을 테스트하기 위해 조명 테스트를 진행했습니다.
패널이 활성화되고 조명되어 테스트 패턴을 표시하여 패널 동작, 점결함, 라인 결함, 색도, 색수차(불균일), 대비 등을 확인합니다.
검사 방법에는 작업자가 육안으로 패널을 검사하는 것과 결함 감지 및 합격/불합격 테스트를 자동으로 수행하는 CCD 카메라를 사용한 자동 패널 검사의 두 가지가 있습니다.
검사에는 셀 테스터, 셀 프로브 및 프로브 장치가 사용됩니다.
또한 모듈 테스트에서는 디스플레이의 얼룩이나 불균일성을 자동으로 감지하고 조명 제어 보상으로 얼룩을 제거하는 얼룩 감지 및 보상 시스템을 사용합니다.
게시 시간: 2022년 1월 18일